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按提交时间
2023
2
按主题分类
核探测技术与核电子学
2
按作者
GU Song
2
LIU Jie
2
SU Hong
2
ZHANG Zhan-Gang
2
DUAN Jing-Lai
1
EN Yun-Fei
1
GENG Chao
1
HOU Ming-Dong
1
KONG Jie
1
LIU Tian-Qi
1
LUO Jie
1
MO Dan
1
SUN You-Mei
1
TONG Teng
1
WANG Xiao-Hui
1
XI Kai
1
YANG Zhen-Lei
1
YAO Hui-Jun
1
ZHAO Xing-Wen
1
按机构
Institute of Modern Physics, Chinese Academy of Sciences, Lanzhou 730000, China
2
University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
2
Science and Technology on Reliability Physics and Application of Electronic Component Laboratory, China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute, Guangzhou 510610, China
1
当前资源共
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您选择的条件:
GU Song
1. ChinaXiv:202306.00235
下载全文
Azimuthal dependence of single-event and multiple-bit upsets in SRAM devices with anisotropic layout
分类:
核科学技术
>>
核探测技术与核电子学
提交时间:
2023-06-18
合作期刊:
《Nuclear Science and Techniques》
ZHANG Zhan-Gang
LIU Jie
HOU Ming-Dong
SUN You-Mei
SU Hong
GU Song
GENG Chao
YAO Hui-Jun
LUO Jie
DUAN Jing-Lai
MO Dan
XI Kai
EN Yun-Fei
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985
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226
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2. ChinaXiv:202306.00277
下载全文
A flexible and robust soft-error testing system for microelectronic devices and integrated circuits
分类:
核科学技术
>>
核探测技术与核电子学
提交时间:
2023-06-18
合作期刊:
《Nuclear Science and Techniques》
WANG Xiao-Hui
TONG Teng
SU Hong
LIU Jie
ZHANG Zhan-Gang
GU Song
LIU Tian-Qi
KONG Jie
ZHAO Xing-Wen
YANG Zhen-Lei
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