天文镜面保护铝膜偏振特性测量方法

摘要: 望远镜的仪器偏振效应主要由金属镜面的反射偏振效应引起，是当前高精度天文偏振测量主要面临的技术问题。为了能够消除仪器偏振对偏振测量精度的影响，在实验室对金属镀膜材料的偏振特性进行精确而全面测量研究就显得至关重要。本文针对保护铝膜提出一种偏振特性测量方法，该方法使用两种光电调制方式对保护铝膜的Mueller矩阵关键元素进行直接测量，并基于双层膜的结构模型，使用多入射角多波长下的测量数据在不依赖色散模型以及参数假设的情况下反演光学参数。本文方法的反演结果与传统方法得到的结果保持一致，同时本文方法能够对偏振特性进行更好的表征。